手机结构可靠性测试标准

跌落试验（
暴露因高低温冲击引诱的样品缺陷
GB/T2423.8-1995
跌落测试机
）电性能参数测试：如果被测试样品为
，参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为
，参照附录二进行参数测试。
）功能测试：拨打电话，显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、
、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。
）外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。
）内存时钟：样机中存中存入
个电话和
条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
测试方法：
） 样机中存中存入
个电话和
条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
）将样机设置为开机插卡状态，对进行
个面
的自由跌落实验，每个面的跌落次数为
次，每个面跌落面都要对手机的外观、结构、内存、时间和功能进行检查。
）跌落顺序为：
）跌落过程中，对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半样品闭合为初始状态；对于滑盖手机应将一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置。
）若样品数量为奇数，则多的一台打开翻盖或滑开滑盖。
）测试条件：跌落高度
，
厚的大理石地板。（对于
手机，根据所属公司质量部门的建议可调整为跌落高度为
手机外观、结构、功能及内存时间无异常。
）参数测试：与综测仪连接进行参数测试，电性能符合测试要求。
）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、
、扬声器、受话器、回声、按键、拍照、充电功能正常以及其它未描述到的功能均无异常。
）结构检查：装饰件、
及
等无脱落，壳体卡钩无脱出、断裂；
无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂、晃动无异响，
无破裂、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；
）外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹、破损、冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象
）样品内存：时钟无异常（内存无丢失、时钟无混乱、复位、**前、滞后等；
）备注：电池
电池盖脱落、关机及掉卡等、如重启无异常，不记录为有问题。
重复跌落测试（
Micro-Drop Test
）
测试环境：
20~25
测试目的：
验证样品重复跌落的可靠性
桌面跌落机
不少于
台样机
）参数测试：如果被测试样品为
，参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为
，参照附录二进行参数测试
）功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、
卡以及其它未描述到的功能
）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、
、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构
）外观测试：喷涂、印刷、电镀，以及其它未描述到的外观；
）内存时钟：存入
个电话和
条短信息，设置手机时钟为当前日期时间
测试方法：
）在手机中预存入
个电话和
条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
）将样机设置为开机状态，插入测试卡，进行
次，*
次对样品进行功能、结构、外观、内存及时间的检查。
）跌落速率为：
次
分钟。
）跌落高度：
。
）跌落时一半样品跌正面，一半样品跌背面。
试验标准：
重复跌落
50,000
次后，对样品进行如下检查
）参数测试：可与综测仪建立连接进行参数测试，手机参数应符合测试要求
）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、
、扬声器、受话器、回音、按键、指示灯、拍照、充电等功能无异常，无关机、掉卡现象以及其它未描述到的功能均正常。
）结构检查：装饰件、
及
等无脱落，壳体、卡钩无脱出、断裂；
无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂；晃动无异响；
无破裂、脱落以及其他与测试前状态不一致的现象。
）外观检查：壳体表面无明显掉漆、无裂纹、破损、冲击痕以及其他与测试前状态不一致的现象。
）样品内存：时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、**前或滞后等）；
滚筒跌落测试（
Free Fall Test
）
测试环境：
室温（
20-25
℃）
测试目的：
验证手机疲劳跌落的可靠性
GB/T 2423.8-1995
 IEC 68-2-32:1990
滚筒跌落测试机
不少于
台
1
）参数测试：如果被测试样品为
，参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为
，参照附录二进行参数测试。
）功能测试：拨打电话，显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、
卡以及其它未描述到的功能。
）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、
、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。
）外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。
）内存时钟：样机中存中存入
个电话和
条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
测试方法：
1
）将样机设置为开机不插卡状态，样机中存入
个电话和
条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。
）将样品放入滚筒跌落试验机，进行高度为
的
次随机跌落测试。
）每
次对样品进行功能与结构检查，每
次进行电性能检查。
）对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半样品闭合为初始状态；对于滑盖手机应将一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置。
 
测试标准：
手机外观、结构、功能及内存时间无异常。
1
）参数测试：样品电性能测试合格。
）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、
、扬声器、受话器、回声、按键、拍照、充电功能正常以及其它未描述到的功能均无异常。
）结构检查：装饰件、
及
等无脱落，壳体卡钩无脱出、断裂；
无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂、晃动无异响，
无破裂、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象。
4
）外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹、破损、冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象。
）样品内存：时钟无异常（内存无丢失、时钟无混乱、复位、**前、滞后等）
）备注：电池
电池盖脱落、关机及掉卡等、如重启无异常，不记录为有问题

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